请教，如何让10位AD 达到更高的分辨率？

老弹弓 · 发表于 2010-5-5 07:27

最近在整充电器，用10位AD的单片机，参考电压5v 分辨率只能达到5mv ，看到m8 做的电子负载可以达到很高的分辨率，也是10位AD 是如何做到的呢？

yanjian · 发表于 2010-5-5 09:28

过采样.

说白了就是多次采样求平均值

litchiate · 发表于 2010-5-5 12:19

看看avr某个应用手册，就是讲过采样的。

老弹弓 · 发表于 2010-5-5 12:27

明白了，以前看过，貌似更高的分辨率是算出来的，而不是真正的测出来的？比如一边是10位AD 通过过采样达到12位精度，另一边是真正的12位ad，两边是不能划等号的？不知道理解的对否？

88888888 · 发表于 2010-5-5 19:38

没有实际意义的，看着那么多位在跳，心烦，那些数字都是不确定的。

locky_z · 发表于 2010-5-5 21:54

本帖最后由 locky_z 于 2010-5-5 22:21 编辑

如果ADC支持差分测量，利用可变基准+差分测量会更有效

例如被测电压是2.2V，因为这个电压较高，单端测量时，基准电压需要2.5V，这样只能分辨出2.5/1024=2.5mV
但如果你用差分测量+可变基准方式，差分端子一端接被测2.2V电压，一端接一个已知电压，例如2.5V，
差分测量是先相减后再测量，所以差分端子电压差只有0.3V，此时你用1V基准电压，就可以分辨出1/1024=1mV电压了。

如果你的ADC有PGA的话，这样可以不用可变基准也行，

同样上面例子，差分电压差是0.3V，但经过8倍PGA放大为2.4V，仍旧用2.5V基准电压，就可以分辨出2.5/1024/8=0.3mV的电压了。

我认为过取样只是减少电压波动而已，并没有提高多少精度，
我用14bit ADC做过实验，分别是进行1次采样，6次去掉最大最小值取平均，18次去最大最小取平均，66次去最大最小取平均值，每种模式共测量10次，看看测出来的电压波动有多少（被测电压也不是很稳定的基准电源)

结果数据如下：
1次模式，波动是+0.047%~-0.0706%
6次模式下波动是+0.033%～-0.028%
18次模式下波动是+0.014%～-0.0094%
66次模式下波动是+0.0065%～-0.0022%

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